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ET35系列LCR數(shù)字電橋是采用自動平衡電橋原理設(shè)計的高精度元件參數(shù)分析儀，其10Hz~1MHz的測試帶寬、頻率連續(xù)可調(diào)、0.05%的基本測量精度以及儀器所提供的自動電平控制功能、列表掃描和檔計數(shù)功能為絕大多數(shù)元器件和材料提供準(zhǔn)確、完整的測量與分析，廣泛適用于產(chǎn)品研發(fā)、元器件入廠檢驗、產(chǎn)品在線分檢等應(yīng)用場合。

20 Hz 至 2 MHz，為廣泛的組件測量提供精度、速度和多功能性的最佳組合。

20 Hz 至 300 kHz / 500 kHz / 1 MHz，通過可用的頻率選擇獲得準(zhǔn)確性、速度和多功能性的組合。

MICROTEST 6621系列LCR測試儀提供10Hz～30MHz寬頻率范圍測量元件/材料阻抗特性，測量參數(shù)包括|Z|(阻抗)、|Y|(導(dǎo)納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串并聯(lián)電阻)、G(電導(dǎo))、B(電納)、L(電感)、D(損耗因數(shù))、Q(品質(zhì)因數(shù))、DCR(直流電阻)、C(電容)、ESR(等效串聯(lián)電阻)。